Ex) Article Title, Author, Keywords
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New Phys.: Sae Mulli 2023; 73: 640-646
Published online August 31, 2023 https://doi.org/10.3938/NPSM.73.640
Copyright © New Physics: Sae Mulli.
Daejung Kim1, Jongwon Lee2*
1School of Basic Sciences, Hanbat National University, Daejeon 34158, Korea
2Department of New Materials Engineering, Hanbat National University, Daejeon 34158, Korea
Correspondence to:*E-mail: jwlee@hanbat.ac.kr
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In this study, hexagonal Cd1-xMnxS (h-CdMnS) thin films with different Mn compositions were grown on GaAs(111) substrates using hot-wall epitaxy. The energy gap of the grown films was obtained through the reflection spectrum, and the crystal structure and quality were examined through X-ray diffraction (XRD) and high-resolution XRD. To obtain insights into the spectroscopic characteristics of the grown films, spectroscopic ellipsometry (SE) was employed, and the critical structures were identified. The pseudodielectric constants
Keywords: Hexagonal-Cd1-xMnxS film, Hot-wall epitaxy, Reflection spectrum, Spectroscopic ellipsometry, Pseudodielectric constants
본 연구에서는 열벽적층성장법(hot-wall epitaxy:HWE)을 이용하여 Mn 조성 변화에 따른 육방정 Cd1-xMnxS 박막을 GaAs(111) 기판 위에 성장시켰다. 성장된 박막은 반사 측정을 수행하여 에너지갭을 구하였고, XRD와 고분해능 XRD (HRXRD) 측정을 이용하여 박막의 결정구조와 결정성을 알아보았다. 박막의 분광학적 특성을 더 심층적으로 평가하기 위하여 타원편광분석법(spectroscopic ellipsometry:SE)을 이용하여 임계점 구조를 관측하였다. 측정된 SE 데이터를 분석하여 박막의 복소 유사유전상수
Keywords: 육방정 Cd1-xMnxS 박막, 열벽적층성장법, 반사 측정, 분광학적 엘립소메트리, 유사유전함수
II-VI족 화합물반도체인 CdS는 약 2.50 eV 정도의 에너지갭을 가지고 있는 직접천이형 반도체로서, 자외선과 가시광선 분광 영역에서 매우 효과적으로 활용할 수 있다고 알려져 있고, 광전도전지에도 널리 사용되고 있다[1]. 본 물질은 또한 청색영역부터 자외선영역까지 비선형 광학장치(nonlinear optical devices), 불균질 태양전지(heterogeneous solar cells), 그리고 그 밖의 광전자장치에 많이 사용되어 왔다[2,3]. 이러한 CdS에 Mn을 소량 첨가하여 희박자성 반도체 (diluted magnetic semiconductor:DMS)라는 새로운 물질을 만들 수 있는데, 이것은 비자성 반도체에 기초를 두고 있다. 이러한 반도체는 Mn 뿐만 아니라 다른 자성 원소(Fe, Co 등)를 상당량(수% 또는 그 이상) 포함하는 비자성 반도체의 합금에 의하여 얻어진다[4]. 일반적인 삼원 화합물반도체와 같이 DMS는 전이금속 이온의 조성을 변화시켜 에너지밴드갭 및 격자상수를 바꿀 수 있고, 이에 따라 여러 가지 흥미로운 자기적 특성이 관측되는 것으로 보고되고 있다[5-7]. 특히 이러한 물질에서는 치환된 전이금속 이온의 자기모멘트와 띠 전자의 스핀 사이의 s, p-d 교환 상호작용은 자기장 속에서 거대 지만 갈라지기(giant Zeeman splitting)나 거대 패러데이 회전(giant Faraday rotation)과 같은 자기광학적 효과를 야기시킨다. 또한 제로 차원 구조에서 전자의 스핀 관계는 연속되는 전자의 압축효과에 의하여 강하게 변형될 수 있다. Mn2+이 첨가되는 II-VI족 양자점들의 광학적 특성은 Mn2+의 d 전자와 sp3 결합 전자 사이에서 향상된 상호작용에 의하여 많은 발전이 이루어져 왔다[4,7].
일반적으로 CdS와 같이 넓은 에너지밴드갭을 가진 물질들은 낮은 Mn 성분(<1.0%)을 가질지라도 밝은 오렌지색 발광을 하는 것으로 잘 알려져 있고, Mn2+ 3d 전자 배치에 따른
본 연구에서는 열벽적층성장법(hot-wall epitaxy:HWE)으로 육방정 Cd1-xMnxS 박막을 성장시켰으며, 성장된 박막의 반사율을 측정하여 에너지갭(Eg)을 구하였고, 엑스선 회절(X-ray diffraction:XRD) 패턴을 이용하여 결정질과 결정구조를 분석하였다. 또한 SE를 이용하여 2.0–8.5 eV의 넓은 에너지 영역대에서 유사 유전함수
본 연구에서 사용된 모든 육방정 Cd1-xMnxS 박막들은 HWE에 의해 GaAs(111) 기판 위에 성장되었다. 박막을 성장하기 위한 CdS의 최적의 기판 온도와 열벽부 온도, 그리고 원료부 온도는 각각 200 °C, 580 °C, 그리고 490 °C – 530 °C 였다. Mn의 원료부 온도는 720 °C에서 790 °C까지 조절되었다. 성장된 박막의 두께는 스펙트로미터를 사용하여 반사측정으로부터 약 1.0 μm로 결정되었고, 성장률은 1.0–3.0 Å/s이었다. 육방정 Cd1-xMnxS 박막의 결정구조와 격자상수는 XRD에 의하여 확인되었다. SE 측정 이전에 박막들은 흐르는 메탄올로 세척하였다. SE 측정 동안에는 공기에 의한 오염이나 산화 방지를 위하여 고순도로 건조된 질소 가스가 연속적으로 박막 표면으로 흐르게 하였다. 육방정 Cd1-xMnxS 박막의 광학적 특성을 연구하기 위하여 사용된 SE 장치는 듀트론 (deuteron) 램프와 제논 (xenon) 램프를 광원으로 사용하는 고진공 자외선 영역의 SE 장치 (Woolam VUV-VASE system)로 구성 되었다. 포톤에너지의 측정범위는 2.0–8.5 eV였으며 입사각은 70°이었고 실온에서 측정하였다. 본 실험에서 측정값은 타원편광학적 방위각 Δ과 Ψ 값으로 얻었으며, 이는 각각 반사 후 파의 위상차이와 반사계수 차이이다. 이를 이용하여 박막의 복소 유사유전함수 〈
여기서
Figure 1은 육방정 Cd1-xMnxS 박막의 반사 스펙트럼을 보여준다. 세 개의 조성별 박막은 간섭무늬의 형태가 깨끗한 것으로 보아 모두가 고품질로 성장되었다는 것을 알 수 있었다. 일반적으로 반사 스펙트럼의 측정으로부터 얻을 수 있는 에너지갭은 첫 번째 간섭무늬의 피크가 에너지갭인 것을 감안하였다[16,17]. 조성별 에너지갭의 변화는 Fig. 1에 삽입하여 나타내었고, Girish 등이 최근에 보고한 내용과 잘 일치한다[18].
Figure 2는 1.0 μm의 두께인 세 개의 조성별 육방정 Cd1-xMnxS 박막의 XRD 스펙트럼이다. 그림에서 알 수 있는 것처럼 x = 0.000의 경우를 기준으로 GaAs(111)와 (222) 회절 피크는 각각 27.37°와 56.42°에서 나타났으며, 육방정 CdMnS (0002)과 (0004) 회절 피크는 각각 26.64°와 54.78°에서 뚜렷하게 관측되었고, 다른 회절 피크는 관측되지 않았다[19,20]. Cd1-xMnxS 박막과 GaAs 기판 피크 사이의 분리각은 Mn 조성 증가에 따라서 약하게 감소됨을 알 수 있었고, Mn 조성이 증가함에 따라 Cd1-xMnxS 박막의 XRD 피크의 강도는 점차적으로 약해지고, 반치폭은 증가하였다. 이는 Mn 조성 증가에 따라 Cd1-xMnxS 박막의 결정질이 다소 감소함을 의미한다. 또한 피크 위치의 결과로부터 GaAs(111) 기판 위에 성장된 Mn 조성 x = 0.000, 0.024 그리고 0.070인 세 개의 CdMnS 박막은 (0001) 방향의 육방정 구조로 성장되었다는 것을 명확하게 확인할 수 있었다[19].
Figure 3은 세 개의 조성별 육방정 Cd1-xMnxS 박막의 고분해능 엑스선 회절(high-resolution X-ray diffraction:HRXRD) 스펙트럼이다. Mn 조성이 증가함에 따라 육방정 Cd1-xMnxS(0004) 박막 회절피크는 GaAs(222) 기판 회절피크와의 분리각이 줄어들었는데, 이는 Fig. 2의 결과를 보다 더 명확히 확인해 준다. Figure 3은 박막이 성장하면서 발생할 수 있는 격자 경사(tilt)에 의한 경사 각도(Δφ)를 고려하여 각각 φ = 0°와 180°에서 두 번 측정하였고, 경사 각도를 보정해 분석한 수직격자상수로 결정하였다. 육방정 Cd1-xMnxS 박막의 수직격자상수는 보정한 GaAs(222)와 육방정 CdMnS(0004) 회절피크 사이의 분리각으로부터 정확한 육방정 Cd1-xMnxS 회절각도를 찾고, 이 회절각을 Bragg 법칙에 적용하여 결정하였다.
육방정 CdS 벌크(bulk)의 수직격자상수(c)는 6.7190 Å로 알려져 있다[19]. 본 연구에서 Mn이 첨가되지 않은 육방정 CdS 박막의 수직격자상수(c)는 6.710 Å으로 측정되었는데, 이는 본 연구에서 성장된 박막이 임계두께( 0.6 μm)를 넘어선 1 μm의 두께로 성장하면서 GaAs(111)기판과의 격자부정합에 의한 압축스트레인(compressive strain)의 영향이 이완(relaxation)된 결과에 의한 것으로 보인다[7]. 이러한 방식으로 결정한 수직격자상수는 Mn 조성이 0.024와 0.070의 경우 각각 6.7056 Å, 6.6937 Å으로 나타났으며, Mn 조성이 증가할수록 수직격자상수는 감소함을 알 수 있다. 이는 Cd 자리에 치환된 Mn 원자의 크기가 상대적으로 Cd 원자의 크기보다 작기 때문에 Mn 조성이 증가할수록 육방정 Cd1-xMnxS 단결정 박막의 수직격자상수는 감소하는 것과 일치되는 결과이다[19].
Figure 4는 육방정 Cd1-xMnxS 박막의 Mn 조성 x의 증가에 따라 SE 측정으로부터 얻어진 유사유전함수의 실수 부분인 〈
Figure 5는 육방정 Cd1-xMnxS 박막의 유사유전함수의 허수부분인 〈
Figure 6은 육방정 Cd1-xMnxS 박막의 유사유전함수 〈
이 수식은 네 개의 매개 변수, 에너지 E, 넒어짐 상수 Γ, 진폭 A, 그리고 위상각 Φ로 구성되어 있다. 우리는 이러한 유사 유전함수 〈
Figure 7은 반사 스펙트럼으로 얻은 에너지갭(Eg)과 SE로 획득한 임계점 에너지구조(E0)에 대하여, 세 개의 육방정 Cd1-xMnxS 박막의 조성에 따른 변화를 비교한 것이다. 본 연구에서와 같이 낮은 Mn 조성의 영역(0.10 이하)에서는 반사측정으로부터 얻은 에너지갭 Eg와 SE 측정으로 얻은 임계점 구조 E0가 저에너지 쪽으로 향하는 변화추이가 유사한 것으로 나타났다. CdS 박막에 Mn을 첨가하여 삼원화합물을 형성하는 과정에서는 조성에 따라 입방정과 육방정의 형태가 동시에 나타나기도 하는데, 앞서 논의한 것처럼 본 연구에서 육방정구조로 성장된 박막의 SE 측정에 의한 임계점 구조(E0)는 Mn 조성 증가에 따라 감소하는 경향을 보였고, 이는 우리가 이미 보고한 내용과 잘 일치하였다[15]. 또한 일반적으로 Cd1-xMnxS와 같은 삼원화합물에서 나타나는 보잉효과(bowing effect)에 따른 결과와도 잘 일치하였다[9]. 결과적으로 반사와 SE로 측정하여 얻은 에너지갭에 대한 비교·분석은 본 연구에서 처음으로 보고되는 것이다.
본 연구에서는 육방정 Cd1-xMnxS 박막들이 HWE에 의하여 GaAs(111) 기판 위에 성장되었다. 반사측정으로부터 간섭모드의 형태가 깨끗한 것으로 보아 모두가 고품질로 성장되었다는 것을 알 수 있었고, 또한 광학적 에너지갭(Eg)을 구할 수 있었다. 성장된 Cd1-xMnxS 박막들은 XRD 패턴으로부터 모두가 육방정(hexagonal) 구조라는 것을 확인하였다. XRD 스펙트럼은 세 개의 육방정 Cd1-xMnxS 박막의 Mn 조성이 증가함에 따라서 박막의 피크 강도는 약간 작아지고 반치폭은 커진다는 것을 알 수 있었다. HRXRD 측정으로부터 육방정 CdS(x = 0.000) 박막의 수직격자상수(c)는 6.710 Å으로, 박막의 두께가 임계두께 0.6 μm를 넘어서면 GaAs(111)기판과의 격자부정합에 의한 압축스트레인(compressive strain)이 이완(relaxation)된다는 것을 확인할 수 있었다. 수직격자상수는 Mn 조성이 x = 0.024와 0.070로 증가함에 따라 각각 6.7056 Å, 6.6937 Å으로 나타났으며, Mn 조성이 증가할수록 수직격자상수는 감소함을 알 수 있었다. 타원편광측정으로는 x = 0.000에서 E0 피크는 약 2.50 eV 근처에서 관측되었고, Mn 조성 증가와 함께 피크는 저에너지쪽으로 이동하여 x = 0.024와 x = 0.070에서는 각각 2.46 eV와 2.42 eV에서 나타났다. E1 피크는 육방정에서 두 개의 피크로 분리가 되는데